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BGA169烧录座老化测试座
基于SD卡的eMMC测试座
一 产品特点：
※ 支持热拔插，可直接插读卡器与电脑连接测试。
※ 同时兼容：东芝、三星、海力士、Intel 、Sandisk(新帝) 等所有同样封装的4BIT 、8BIT eMMC 闪存记忆体。如图示 (只需相应PIN脚定义一样 )；
※ 同时兼容 169-FBGA 153-FBGA ,不同尺寸IC(11.5x13,12x16,12x18,14x18mm),可自行更换限位框实现通用性降低使用成本。
※ 采用双头探针，性能稳定使用寿命长，使用寿命是同类产品的10倍以上；
※ 维护方便，不良探针可更换，重复利用率较高，降低使用成本。
※ 兼容有球无球测试，通用性好，降低使用成本。
※ 采用手动翻盖式结构,操作方便简单。
※ 采用浮板结构,定位,取放IC方便，工作效率更高。
※ 可进行测试和低级格式化。
二 测试
（1） 选择和IC尺寸相同的限位框按方向装在浮板上(标配限位框为 14X18，11.5X13 12X16 12X18 )
（2） 把IC按方向平放入限位框内,合上socket上盖。
（3） 选择相对应的电压,本测试治具默认电压为3.3V，如果要求为1.8V请把跳帽到2～3位置，
（4） 选择和IC相应的位数,本测试治具默认值位8BIT,如果是4BIT的,请把四位开关全部拨到OFF位置，
（5） 把eMMC 夹具按方向插在读卡器上，打开相应的测试软件进行测试。
三、维修与保养
在使用本产品过程中如发现测试性能不稳定，建议用以下方法解决：
a) 用手按下浮板使探针露出,用防静电刷轻刷几遍，去除杂质,使其接触良好;
b) 用手按下浮板使探针露出,检查探针有歪和断头现象,如有此现象请按图示把相应不良探针更换。
c) 如发现有大面积接触不良，请与我们联系。
d) 严禁用天那水、有机溶剂，浸泡、清洗。
e) 长时间不使用时，请用防静电袋密封保存，避免灰尘落入，影响产品测试性能。
